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申请号
专利名称
CN201510378549.9
一种原子力显微镜检测单分子水平分子间相互作用的方法
CN202010098549.4
一种评估聚合物基自修复膜自修复极限的方法
CN202010341820.2
一种多样品快速更换型扫描探针显微镜
CN201711094075.0
一种微米直径的锥形毛移动和转移纳米线的方法
CN201710015449.9
基于相场模型利用激光控制硅基表面形态的研究方法
CN202110737437.3
嵌套式扫描探针显微镜
CN201910768066.8
应用于近场扫描微波显微镜的扫描区域平面纠斜的方法
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