专利摘要
专利摘要
本发明涉及一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,包括固定杆和滑杆,滑杆能够在固定杆内沿杆的长度方向滑动,固定杆的一端连接有第一放线轮和第二放线轮,固定杆和滑杆的另一端端部连接有第一定滑轮和第二定滑轮;固定杆和滑杆上设置有多个孔距相同的用于连接第一定滑轮连接孔;第一放线轮和所述第二放线轮分别通过牵引绳绕过所述第一定滑轮和第二定滑轮,牵引绳的末端连接有剪切波速测试装置;固定杆的底部连接有支撑柱;第一定滑轮和第二定滑轮的下方均通过“U”形架分别连接有测量绳滑轮,所述“U”形架连接到固定杆的侧面。本发明通过固定杆和伸缩杆及滑轮组的配合,能够保证牵引绳伸入到深孔中的深度,省时省力。
权利要求
1.一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,其特征在于,包括固定杆和滑杆,所述滑杆能够在固定杆内沿杆的长度方向滑动,所述固定杆的一端连接有第一放线轮和第二放线轮,所述固定杆和滑杆的另一端端部连接有第一定滑轮和第二定滑轮;所述固定杆和滑杆上设置有多个孔距相同的用于连接第一定滑轮连接孔;所述第一放线轮和所述第二放线轮分别通过牵引绳绕过所述第一定滑轮和第二定滑轮,所述牵引绳的末端连接有剪切波速测试装置;所述固定杆的底部连接有支撑柱;所述第一定滑轮和第二定滑轮的下方均通过“U”形架分别连接有测量绳滑轮,所述“U”形架连接到固定杆的侧面。
2.根据权利要求1所述的一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,其特征在于,所述固定杆包括相对设置的左滑槽和右滑槽,所述左滑槽和右滑槽为“U”形结构,所述左滑槽和右滑槽的顶面通过多个倒“U”形连接件连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,其特征在于,所述滑杆包括分别滑动连接于左滑槽和右滑槽内的左滑块和右滑块。
4.根据权利要求2或3所述的一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,其特征在于,所述左滑槽和右滑槽的内部顶面均设置有分别与左滑块和右滑块顶面开设的凹槽配合的定位板。
5.根据权利要求1所述的一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,其特征在于,所述固定杆的底部通过铰接座和铰接轴与能够旋转90°的支撑柱连接。
6.根据权利要求1或5所述的一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,其特征在于,所述支承柱的底部设置有底盘。
7.根据权利要求1所述的一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,其特征在于,所述牵引绳与剪切波速测试装置连接处设置有震动感应器。
8.根据权利要求1所述的一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,其特征在于,所述第一定滑轮和第二定滑轮分别通过中间为光柱面、两端为螺纹柱面的螺杆连接到固定杆和/滑杆上。
说明书
技术领域
本发明属于剪切波速测试技术领域,特别涉及一种用于深孔剪切波速测试的升降装置。
背景技术
目前,在剪切波速测试中,有跨孔法和单孔法,一般都是通过牵引绳将测试装置送入深孔中。这种方式不能保证深度一致,且需要多个工作人员配合,浪费人力。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可保证深度一致的用于深孔剪切波速测试的升降装置,以解决上述问题。
为了达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:
一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,包括固定杆和滑杆,所述滑杆能够在固定杆内沿杆的长度方向滑动,
所述固定杆的一端连接有第一放线轮和第二放线轮,所述固定杆和滑杆的另一端端部连接有第一定滑轮和第二定滑轮;所述固定杆和滑杆上设置有多个孔距相同的用于连接第一定滑轮连接孔;所述第一放线轮和所述第二放线轮分别通过牵引绳绕过所述第一定滑轮和第二定滑轮,所述牵引绳的末端连接有剪切波速测试装置;
所述固定杆的底部连接有支撑柱;所述第一定滑轮和第二定滑轮的下方均通过“U”形架分别连接有测量绳滑轮,所述“U”形架连接到固定杆的侧面。
所述固定杆包括相对设置的左滑槽和右滑槽,所述左滑槽和右滑槽为“U”形结构,所述左滑槽和右滑槽的顶面通过多个倒“U”形连接件连接。
所述滑杆包括分别滑动连接于左滑槽和右滑槽内的左滑块和右滑块。
所述左滑槽和右滑槽的内部顶面均设置有分别与左滑块和右滑块顶面开设的凹槽配合的定位板。
所述固定杆的底部通过铰接座和铰接轴与能够旋转90°的支撑柱连接。
所述支承柱的底部设置有底盘。
所述牵引绳与剪切波速测试装置连接处设置有震动感应器。
所述第一定滑轮和第二定滑轮分别通过中间为光柱面、两端为螺纹柱面的螺杆连接到固定杆和/滑杆上。
与现有技术相比,本发明实施例的优点在于:本发明通过固定杆和伸缩杆及滑轮组的配合,能够保证牵引绳伸入到深孔中的深度,省时省力。
附图说明
图1为本发明主视结构示意图;
图2为图1侧视图;
图3为图1的俯视图;
图4为底盘的示意图;
图5为测量绳滑轮的示意图;
图6为多组升降装置的组合示意图;
图中:1.第一放线轮;2.固定杆;201.左滑槽,202.右滑槽;203.定位板;3.倒“U”形连接件;4.连接孔;5.第一定滑轮;6.滑杆;601.左滑块;602.右滑块;7.测量绳滑轮;8.“U”形架;9.牵引绳;10.测量绳;11.震动感应器;12.剪切波速测试装置;13.底盘;14.支撑柱;15.摇把;16.第二定滑轮;17.铰接轴;18.铰接座;19.深孔;20.第二放线轮。
具体实施方式
以下将结合附图对本发明各实施例的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施例,都属于本发明所保护的范围。
如图1-6所示,本发明的实施例公开了一种用于深孔剪切波速测试的升降装置,具体应用于跨孔法的测试,其包括固定杆2和滑杆6,滑杆6能够在固定杆2内沿杆的长度方向滑动,
固定杆2的一端连接有第一放线轮1和第二放线轮20,固定杆2和滑杆6的另一端端部连接有第一定滑轮5和第二定滑轮16;第一放线轮1和第二放线轮20分别通过牵引绳9绕过所述第一定滑轮5和第二定滑轮16,牵引绳9的末端连接有剪切波速测试装置12;
固定杆2的底部连接有支撑柱14;
第一定滑轮5和第二定滑轮16的下方均通过“U”形架分别连接有测量绳滑轮,“U”形架连接到固定杆的侧面。
为了增强本发明的耐用度和使用寿命,固定杆2包括相对设置的左滑槽201和右滑槽202,左滑槽201和右滑槽202为U形结构,左滑槽201和右滑槽202的顶面通过多个倒U形连接件3连接。
作为一种与固定杆2配合的优选技术方案,滑杆6包括分别滑动连接于左滑槽201和右滑槽202内的左滑块601和右滑块602,能够使滑杆6滑动更加顺畅。
为了能够使滑杆6在滑动过程中更加稳定,左滑槽201和右滑槽202的内部顶面均设置有分别与左滑块601和右滑块602顶面开设的凹槽配合的定位板203。
固定杆2的底部通过铰接座18和铰接轴17与能够旋转90°的支撑柱14连接,这样不仅是支撑柱14具备支撑功能,且不使用时通过向上旋转支撑柱14,节省了存储空间,且方便搬运。
为了使支撑柱14的支撑更稳固,在支承柱14的底部设置有底盘13。
牵引绳9与剪切波速测试装置12连接处设置有震动感应器11,这样就可以通过振动感应器11及时检测到深孔19内壁的震动,可以使剪切波速测试装置12在深孔19坍塌之前快速撤出深孔,防止设备损坏或者增加测试的重复次数。
第一定滑轮5和第二定滑轮16分别通过中间为光柱面、两端为螺纹柱面的螺杆连接到固定杆2和/滑杆6上。这样的结构使得第一定滑轮5和第二定滑轮16的连接结构更稳定。且在不需要连接第二定滑轮16时,通过螺杆连接左滑块601和右滑块602,使滑杆6的结构更稳定。
本发明在使用时,在固定杆2的一端安装好带摇把15的第一放线轮1和第二放线轮20,在固定杆2的另一端安装好第一定滑轮5和第一定滑轮5下方的测量绳滑轮7,然后通过支承柱14将固定杆2固定于地面上,拉出滑杆6,使滑杆6到达需要的长度,在滑杆6的末端安装好第二定滑轮16和位于第二定滑轮16下方的测量绳滑轮7,这时第一定滑轮5和第二定滑轮16分别位于深孔19的上方,然后将连接两个剪切波速测试装置12的牵引绳9分别通过第一放线轮1和第二放线轮20绕过第一定滑轮5和第二定滑轮16,然后慢慢摇动摇把15开始放线,直至两个剪切波速测试装置12位于两个深孔中的同一水平位置。位于同一水平位置的测量是通过测量绳10来完成的,测量绳10的放线过程伴随着牵引绳9的放线过程,测量绳10的另一端由操作人员牵引,通过拉动测量绳时感觉稍紧时的刻度为准。
上述实施例是应用于跨孔时的应用,当需要单孔测试时,只要将滑杆6推入到固定杆1内,由于固定杆1和滑杆6侧面上的连接孔孔距相同,因此可以通过在端部将第一定滑轮5同时连接到固定杆1和滑杆6上。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
一种用于深孔剪切波速测试的升降装置专利购买费用说明
Q:办理专利转让的流程及所需资料
A:专利权人变更需要办理著录项目变更手续,有代理机构的,变更手续应当由代理机构办理。
1:专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。
2:按规定缴纳著录项目变更手续费。
3:同时提交相关证明文件原件。
4:专利权转移的,变更后的专利权人委托新专利代理机构的,应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。
Q:专利著录项目变更费用如何缴交
A:(1)直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,(2)通过代办处缴纳,(3)通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式
Q:专利转让变更,多久能出结果
A:著录项目变更请求书递交后,一般1-2个月左右就会收到通知,国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。
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