专利摘要

专利摘要

本发明的闪烁器面板（1）是响应于透过了对象物（A）的放射线的入射而使闪烁光放射的平板状的构件，在对闪烁光进行聚光并摄像的图像取得装置所使用的闪烁器面板中，具备：使放射线透过的平面状的隔板（2）、配置在隔板（2）的一个面（2a）上且将放射线变换成闪烁光的平板状的闪烁器（3）、以及配置在隔板（2）的另一面（2b）上，将放射线变换成闪烁光的平板状的闪烁器（4）。

权利要求

1.一种闪烁器面板，其特征在于，

是响应于透过了对象物的放射线的入射而使闪烁光放射的平板状的构件，且是在对所述闪烁光进行聚光并摄像的图像取得装置中所使用的闪烁器面板，

具备：

平面状的隔离构件，使放射线透过；

平板状的第1波长变换构件，配置在所述隔离构件的一个面上，将所述放射线变换成闪烁光；以及

平板状的第2波长变换构件，配置在所述隔离构件的另一个面上，将所述放射线变换成闪烁光。

2.如权利要求1所述的闪烁器面板，其特征在于，

所述隔离构件对于所述闪烁光具有遮光性。

3.如权利要求1或2所述的闪烁器面板，其特征在于，

在所述隔离构件，形成有反射所述闪烁光的反射面。

4.如权利要求1～3中任一项所述的闪烁器面板，其特征在于，

所述第1波长变换构件与所述第2波长变换构件由不同的材料形成。

5.如权利要求1～4中任一项所述的闪烁器面板，其特征在于，

所述第1波长变换构件与所述第2波长变换构件的厚度不同。

说明书

技术领域

本发明涉及一种将透过了对象物的放射线变换成闪烁光的闪烁器面板。

背景技术

历来，关于X射线图像的检测技术，已知的有通过检测由入射到检测器的放射线所产生的电荷，直接检测放射线的方式即直接变换方式，以及使用闪烁器材料等的放射线变换部件将放射线变换成光后用检测器检出的方式即间接变换方式。作为采用这样的间接方式的装置所使用的闪烁器，公开了在基板上具备形成有荧光体层的荧光体嵌板的闪烁器面板（参照下述专利文献1）。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007-139604号公报

发明内容

发明所要解决的问题

然而，在上述那样的现有闪烁器面板中，由于荧光体层的一个面侧有基板存在，因此难以观察从放射线的入射面及其背面两面出射的闪烁光。即，难以观察由比较高能量带的放射线在荧光体层的背面侧所产生的闪烁光。另外，即使假设能够观察到从闪烁器面板的背面侧出射的闪烁光，闪烁器面板的入射面侧所产生的闪烁光也会透过闪烁器面板而从背面侧出射。因此，不能区分地观察由比较低能量带的放射线在荧光体层的入射面侧所产生的闪烁光与由比较高能量带的放射线在荧光体层的背面侧所产生的闪烁光，有观察的放射线的能量区别性不高的倾向。

因此，本发明有鉴于所涉及的技术问题而作出的，其目的在于，提供一种可以通过使从放射线的入射面及其背面出射的闪烁光的观察变得可能而取得能量区别性高的放射线检测图像的闪烁器面板。

解决技术问题的手段

为了解决上述技术问题，本发明的一个侧面所涉及的闪烁器面板，是响应于透过了对象物的放射线的入射而使闪烁光放射的平板状的构件，在对闪烁光进行聚光并摄像的图像取得装置所使用的闪烁器面板中，具备：使放射线透过的平面状的隔离构件、配置在隔离构件的一个面上且将放射线变换成闪烁光的平板状的第1波长变换构件、以及配置在隔离构件的另一面上且将放射线变换成闪烁光的平板状的第2波长变换构件。

根据这样的闪烁器面板，将放射线变换成闪烁光的2个平板状的波长变换构件夹持使放射线透过的平面状的隔离构件而配置，因而透过了对象物的放射线被一个波长变换构件变换成闪烁光，并且透过了该波长变换构件和隔离构件后被另一个波长变换构件变换成闪烁光。此时，通过隔离构件的存在，2个波长变换构件中所产生的各个闪烁光相对于2个波长变换构件的隔离构件容易从反射侧的面出射。其结果，通过把该闪烁器面板使用在对从闪烁器面板的两面出射的闪烁光进行聚光并摄像的放射线图像取得装置，能够效率高地区别高能量带的放射线图像和低能量带的放射线图像。

发明的效果

根据本发明，能够通过使从放射线的入射面及其背面出射的闪烁光的观察变得可能，而取得能量区别性高的放射线检测图像。

附图说明

图1表示本发明优选的一个实施方式所涉及的闪烁器面板1的概略结构的正面图。

图2是使用了图1的闪烁器面板1的放射线图像取得装置11的概略结构图。

图3是表示图2的放射线图像取得装置11中的放射线源12和检测器13,14的配置例的正面图。

图4是表示图2的放射线图像取得装置11中的放射线源12和检测器13,14的配置例的正面图。

图5是使用了图1的闪烁器面板1的其他的放射线图像取得装置31的概略结构图。

图6是本发明的变形例所涉及的闪烁器面板的正面图。

符号说明：

1,101…闪烁器面板、2,102…隔板、2a,2b…配置面、3,4…闪烁器、11,31…放射线图像取得装置、102a,102b…反射面、A…对象物。

具体实施方式

以下，一边参照附图一边详细地说明本发明所涉及的闪烁器面板的优选实施方式。再有，附图的说明中对相同或相当部分使用相同的符号，省略重复的说明。另外，各附图是为了说明用而制作的，以特别强调的方式描绘说明的对象部位。因此，附图中的各构件的尺寸比率未必与实际构件的尺寸一致。

图1表示本发明优选的一个实施方式所涉及的闪烁器面板1的概略结构的正面图。如该图所示，闪烁器面板1是将透过了对象物的X射线等的放射线变换成闪烁光的构件，具有以与平面状的隔板（隔离构件）2的两面相接的方式配置有2块平板状的闪烁器3,4的结构。

闪烁器3,4是响应于放射线的入射而生成闪烁光的波长变换构件，其材料由检测的放射线的能量带选择，其厚度也在数μm～数mm的范围由检测的能量带设定成适当的值。例如，作为闪烁器3,4的材料，可以使用Gd₂O₂S:Tb、Gd₂O₂S:Pr、CsI:Tl、CdWO₄、CaWO₄、Gd₂SiO₅:Ce、Lu_0.4Gd_1.6SiO₅、Bi₄Ge₃O₁₂、Lu₂SiO₅:Ce、Y₂SiO₅、YAlO₃:Ce、Y₂O₂S:Tb、YTaO₄:Tm等。

这2个闪烁器3,4可以由相同的材料形成，也可以由不同的材料形成。在由不同的材料形成的情况下，设定成对于放射线的波长的变换效率不同。例如，作为闪烁器3,4的材料，可以举出Gd₂O₂S:Tb与CsI:Tl、Gd₂O₂S:Tb与CdWO₄、或者CsI:Tl与CdWO₄等的组合。另外，2个闪烁器3,4可以形成相同的厚度，也可以形成不同的厚度。通过形成为厚度不同，能够相对地调整针对相对于透过2个闪烁器3,4的放射线的灵敏度或波长的应答特性。例如，能够将闪烁器3的厚度设定为数μm～300μm，将闪烁器4的厚度设定为在150μm～数mm的范围而比闪烁器3厚。

隔板2是用于支撑闪烁器3,4的厚度为0.5μm～5mm的平面状的构件，形成有与2个闪烁器3,4的各个相接的2个平面2a,2b，具有使检测对象的放射线透过且遮蔽由闪烁器3,4生成的闪烁光的性质。作为该隔板2，可以使用例如碳板，FOP（Fiber Optic Plate：光纤板）等玻璃制的板构件，铝板、铍板以外再加上钛、金、银、铁等的金属板构件、或者塑料板等的树脂制板构件。

上述构成的闪烁器面板1通过将闪烁器3,4各自配置的板构件接合与闪烁器3,4相反侧的面来制作。在这种情况下，能够比较容易地制作成闪烁器面板。另外，闪烁器面板1通过在一层构造的隔板2的两面的各面配置闪烁器3,4来制作。

接着，说明使用本实施方式的闪烁器面板1来取得半导体器件等电子部件或食品等这样的对象物A的放射线图像的放射线图像取得装置的结构。

图2是使用了闪烁器面板1的放射线图像取得装置11的概略结构图。如该图所示，放射线图像取得装置11具备：朝着对象物A出射白色X射线等的放射线的放射线源12、响应于从放射线源12出射并透过对象物A的放射线的入射而产生闪烁光的闪烁器面板1、对从闪烁器面板1的放射线的入射侧的检测面1a出射的闪烁光进行聚光并摄像的表面观察用光检测器13、以及对从与检测面1a相反侧的面即检测面1b出射的闪烁光进行聚光并摄像的背面观察用光检测器14。这里，闪烁器面板1在闪烁器3的检测面1a朝着对象物A的状态下配置。即，闪烁器面板1以使闪烁器3的与隔板2相反侧的面1a与表面观察用光检测器13相对且使闪烁器4的与隔板2相反侧的面1b与表面观察用光检测器14相对的方式配置。这些放射线源12、闪烁器面板1、表面观察用光检测器13、以及表面观察用光检测器14被收纳于未图示的筐体，并被固定在筐体内。

表面观察用光检测器13（以下，称为“表面检测器13”）是通过从闪烁器面板1的检测面1a侧对从闪烁器面板1出射的闪烁光摄像，来取得对象物A的比较低能量的放射线透过像的间接变换方式的摄像机构。表面检测器13是具有对从闪烁器面板1的检测面1a出射的闪烁光进行聚光的聚光透镜部13a和对被聚光透镜部13a聚光的闪烁光进行摄像的摄像部13b的透镜耦合型检测器。聚光透镜部13a对包含检测面1a上的规定范围的视野15的闪烁光进行聚光。作为摄像部13b，可以使用例如CMOS传感器、CCD传感器等。

背面观察用光检测器14（以下，称为“背面检测器14”）是通过从闪烁器面板1的检测面1b侧对从闪烁器面板1出射的闪烁光摄像来取得对象物A的较高能量的放射线透过像的间接变换方式的摄像机构。背面检测器14是具有对从闪烁器面板1的检测面1b出射的闪烁光进行聚光的聚光透镜部14a和对由聚光透镜部14a进行聚光的闪烁光进行摄像的摄像部14b的透镜耦合型检测器，具有与上述的表面检测器13同样的结构。聚光透镜部14a对包含检测面1b上的规定范围的视野16的闪烁光进行聚光。

此外，放射线图像取得装置11具备：控制表面检测器13和背面检测器14中的摄像时序的时序控制部17、输入从表面检测器13和背面检测器14输出的图像信号并基于所输入的各图像信号来实行图像处理等的规定处理的图像处理装置18、以及输入从图像处理装置18输出的图像信号并显示放射线图像的显示装置19。这里，作为图像处理，可以举出得出所输入的比较低能量的图像与比较高能量的图像的差分图像或加法运算图像的图像间运算等。时序控制部17和图像处理装置18由具有CPU（Central Processing Unit）、ROM（Read Only Memory）、RAM（Random Access Memory）和输入输出接口等的计算机构成。作为显示装置19，可以使用公知的显示器。再有，时序控制部17和图像处理装置18可以构成为由单个计算机实行的程序，也可以构成为分别设置的单元。

这里，放射线源12以放射线的光轴X相对于闪烁器面板1的检测面1a的法线B成规定的角度θ（0度＜θ＜90度）的方式配置。即，放射线源12与对象物A和检测面1a相对，并且配置在与检测面1a的法线B偏离的位置。这里，法线B是指从检测面1a上的某一点相对于检测面1a垂直延伸的直线。

另外，表面检测器13以可以对从闪烁器面板1的检测面1a出射的闪烁光摄像的方式且以内含的聚光透镜部13a的光轴相对于检测面1a正交的方式配置。这里，聚光透镜部13的光轴与检测面1a的法线B一致。即，表面检测器13与检测面1a相对，并且配置在检测面1a的法线B上。该聚光透镜部13a将从检测面1a向法线B方向出射的闪烁光朝着摄像部13b聚光。

通过上述那样做，表面检测器13从放射线源12的光轴X上偏离而配置。即，表面检测器13以与从来自放射线源12的放射线的出射区域（放射线束20存在的区域）相离的方式配置。由此，防止从放射线源12而来的放射线所引起的表面检测器13的被曝光，并防止在表面检测器13的内部生成放射线的直接变换信号而产生噪声。

此外，背面检测器14以可以对从闪烁器面板1的检测面1b出射的闪烁光进行摄像的方式且以内含的聚光透镜部14a的光轴相对于检测面1b正交的方式配置。这里，聚光透镜部14a的光轴与检测面1b的法线C一致。即，背面检测器14与检测面1b相对，并且配置在检测面1b的法线C上。这里，法线C是指从检测面1b上的某一点相对于检测面1b垂直延伸的直线。在放射线图像取得装置11中，法线C与法线B一致。聚光透镜部14a将从检测面1b向法线C方向出射的闪烁光朝着摄像部14b聚光。

接着，说明具有上述的结构的放射线图像取得装置11的动作。首先，当从放射线源12向对象物照射X射线时，从检测面1a放射的闪烁光成为入射的放射线中的主要从低能量成分变换的闪烁光。另一方面，从检测面1b放射的闪烁光成为入射的放射线中的主要从高能量成分变换的闪烁光。这是因为，低能量带的放射线在闪烁器面板1的闪烁器3的内部的检测面1a侧容易被变换成闪烁光，而高能量带的放射线透过闪烁器面板1的闪烁器3和隔板2而在闪烁器4的内部的检测面1b附近容易被变换成闪烁光。这里，将与对象物A相对的比较低能量带的放射线进行变换的闪烁器3，与将比较高能量带的放射线进行变换的闪烁器4相比要厚。在这种情况下，由于通过闪烁器3容易将低能量带的放射线去掉，在闪烁器4的检测面1b侧更高能量带的放射线容易被变换成闪烁光，因此，在表面检测器13和背面检测器14所取得的放射线图像的能量区别进一步提高。另外，在放射线源12的能量全部为低的情况下，通过减薄闪烁器3的厚度，能够提高更低能量的变换效率，并且能够提高高能量带的放射线的透过率，提高闪烁器4的变换效率，并提高能量区别性能。另一方面，在放射线源12的能量全部为高的情况下，通过增加闪烁器3的厚度，能够容易变换闪烁器3中从低的能量到中间程度的能量的放射线，并且能够使将低能量带的放射线被消除的比例变化，使得闪烁器4中高的能量带的放射线容易被变换，从而提高能量区别性能。

进行由时序控制部17的控制，以使这样的X射线照射时同时进行表面检测器13和背面检测器14所得到的摄像。通过时序控制部17的时序控制，进行对象物A的放射线图像的表背两面中的双重摄像。在该双重摄像中，由表面检测器13取得比较低的能量带的放射线图像，由背面检测器14取得比较高能量带的放射线图像。由此，取得不同的能量带的放射线图像，实现双重能量摄像。

关于表面检测器13和背面检测器14的功能，换言之，由表面检测器13检测检测面1a侧的荧光像。检测面1a侧的荧光像的检测具有荧光的模糊（blur）少，而且荧光的辉度高这样的特点。这是因为，在表面观察中，在闪烁器面板1的内部产生的模糊的影响小，而且闪烁器面板1的内部中的扩散或自己吸收的影响小。另一方面，由背面检测器14检测闪烁器面板1向厚度方向行进而在检测面1b侧显示的荧光像。

接下来，通过表面检测器13和背面检测器14的各个，与表背两面的放射线图像相对应的图像信号被输出到图像处理装置18。当从表面检测器13和背面检测器14的各个输出的图像信号时，通过图像处理装置18基于输入的图像信号实行规定的处理，图像处理后的图像信号输出到显示装置19。然后，当从图像处理装置18输出的图像处理后的图像信号输入到显示装置19时，通过显示装置19显示响应于输入的图像处理后的图像信号的放射线图像。

再者，放射线图像取得装置11中，由于放射线源12配置在与检测面1a的法线B偏离的位置，表面检测器13和背面检测器14分别配置在法线B、C上，因此，检测器的影像不会被映入到放射线透过像，因而抑制噪声成分的产生，并且也不会产生检测器所引起的放射线的衰减，因而抑制信号成分的减少。此外，防止放射线所引起的表面检测器13和背面检测器14的被曝光，抑制表面检测器13的内部产生噪声。其结果，通过一次摄像便能够同时取得低能量图像和高能量图像，从而谋求同时性的确保、被曝光量的减少、摄像时间的缩短和像素错位（位置不正(misregistration)）的消除。此外，通过表面检测器13和背面检测器14能够取得任一种均不受透视倾斜（perspective）的放射线图像，使检测面1a侧和检测面1b侧的图像间的运算变得容易。

这里，在上述的放射线图像取得装置11中，放射线源12、表面检测器13、以及背面检测器14的位置关系可以如以下那样进行变更和进行构成。

具体而言，如图3所示，可选地，放射线源12以在检测面1a的法线上与对象物A和检测面1a相对的方式配置，且表面检测器13以聚光透镜部13a的光轴B相对于检测面1a的法线成规定的角度θ₁（0度＜θ₁＜90度）的方式即与检测面1a相对并且与检测面1a的法线偏离的方式配置。在这种情况下，检测器的影像不会映入到放射线透过像，因而抑制了信号成分的减少。此外，防止放射线所引起的表面检测器13的被曝光，抑制表面检测器13的内部中的噪声的产生。此外，通过背面检测器14能够取得没有透视倾斜的放射线图像，将背面检测器14所得到的放射线图像作为基准图像，而对表面检测器13所得到的放射线图像、进行透视倾斜修正，使检测面1a侧和检测面1b侧的图像间的运算变得容易。

另外，如图4所示，相对于图3所示的配置例而言，也可以以聚光透镜部14a的光轴C相对于检测面1b的法线成规定的角度θ₂（0度＜θ₂＜90度）的方式即与检测面1b相对并且与检测面1b的法线偏离的方式配置背面检测器14。在这种情况下，防止放射线所引起的背面检测器14的被曝光，抑制背面检测器14的内部产生噪声。此外，通过表面检测器13和背面检测器14能够取得透视倾斜相同的放射线图像，使检测面1a侧和检测面1b侧的图像间的运算变得容易。再有，为了使图像间运算变得更容易，优选使角度θ₁与角度θ₂相同。

另外，图5是使用了闪烁器面板1的其他的放射线图像取得装置31的概略结构图。该图所示的放射线图像取得装置31是能够通过1个检测器取得低能量图像和高能量图像的放射线图像取得装置，具备放射线源12、以检测面1a大致垂直于放射线源12的放射线的出射方向的方式配置的闪烁器面板1、对由闪烁器面板1变换的光进行摄像的光检测器34、以及将由闪烁器面板1变换的光作为放射线透过像朝向光检测器34进行导光的光学系统35。该光检测器34与图2的检测器13,14同样地，是具有聚光透镜部34a与摄像部34b的间接变换方式的检测器。

光学系统35由作为控制从闪烁器面板1放射的闪烁光的光路的光学构件的5面反射镜36a,36b,37a,37b,38、以及使反射镜38旋转的旋转驱动机构39构成。光学系统35中的反射镜36a,36b配置在闪烁器面板1的检测面1a侧，将从检测面1a辐射的闪烁光L₁朝向反射镜38导光，反射镜38配置于与闪烁器面板1在沿着检测面1a的延长方向上分离的位置。光学系统35中的反射镜37a,37b配置在闪烁器面板1的检测面1b侧，将从检测面1b辐射的闪烁光L₂朝向反射镜38进行导光。光学系统35中的反射镜38被配置成其反射面38a的法线与包含闪烁光L₁,L₂的光路的平面大致平行。另外，反射镜38被内含电机的旋转驱动机构39以与包含闪烁光L₁,L₂的光路的平面大致垂直的轴为中心而可旋转地支撑。通过这样的被旋转驱动机构39支撑的反射镜38，将闪烁光L₁,L₂选择性地朝向光检测器34导光，光检测器34与反射镜38在沿着检测面1a的延长方向上进一步分离而配置。即，通过旋转驱动机构39使反射面38a朝向反射镜36b侧的方式旋转反射镜38（图1的实线），则闪烁光L₁朝向光检测器34的聚光透镜部34a反射。另一方面，通过旋转驱动机构39使反射面38a朝向反射镜37b侧的方式旋转反射镜38（图1的两点划线），则闪烁光L₂朝向光检测器34的聚光透镜部34a反射。

此外，放射线图像取得装置31具备控制旋转驱动机构39的旋转的旋转控制部41、控制利用反射镜38的闪烁光L₁,L₂的选择时序和光检测器34的摄像时序的时序控制部42、以及处理从光检测器34输出的图像信号的图像处理装置18。详细而言，旋转控制部41根据时序控制部42的指示信号将控制信号送出到控制旋转驱动机构39并控制反射镜38的旋转角度。时序控制部42为了以使闪烁光L₁被反射到光检测器34的方式切换反射镜38的旋转角度而将指示信号送出到旋转控制部41，同时将指示信号送出到光检测器34，使得与反射镜38的切换同步地对闪烁光L₁进行摄像。此外，时序控制部42为了以使闪烁光L₂被反射到光检测器34的方式切换反射镜38的旋转角度而将指示信号送出到旋转控制部41，同时将指示信号送出到光检测器34，使得与反射镜38的切换同步地对闪烁光L₂进行摄像。图像处理装置18取得由光检测器34对闪烁光L₁,L₂摄像的结果所得到的2个图像信号，通过处理这2个图像信号而生成与对象物A相关的放射线透过像数据。

根据这样的放射线图像取得装置31，从闪烁器面板1的两面辐射的闪烁光L₁,L₂经由光学系统35而被导光至光检测器34，因而光检测器34可以与放射线的出射区域分离。由此，检测器的影像不会映入到对象物A的放射线投影像，也不会有检测器所引起的放射线的低能量成分的衰减。另外，放射线入射到检测器自身所引起的直接变换的噪声的发生也少。另外，由于能够通过1个检测器取得低能量成分的放射线透过像和高能量成分的放射线透过像，因此能够容易地谋求装置的小型化。

针对以上说明的闪烁器面板1的作用效果进行说明。

在闪烁器面板1中，将放射线变换成闪烁光的2个平板状的闪烁器3,4夹持着让放射线透过的平面状的隔板2而配置，因而透过了对象物A的放射线被一个闪烁器3变换成闪烁光，并且透过了该闪烁器3和隔板2后被另一个闪烁器4变换成闪烁光。此时，通过隔板2的存在，2个闪烁器3,4中所产生的各个闪烁光相对于2个闪烁器3,4的隔板2容易从反射侧的面1a,1b出射。其结果，通过把该闪烁器面板1使用在对从闪烁器面板1的两面1a,1b出射的闪烁光进行聚光并摄像的放射线图像取得装置11,31，能够效率高地区别高能量带的放射线图像和低能量带的放射线图像。

另外，隔板2相对于闪烁光具有遮光性，因而能够切实地防止闪烁器3,4中的一个所产生的闪烁光入射到闪烁器3,4中的另一个，能够提高放射线图像的能量区别性。

另外，通过使用对不同的能量带的放射线灵敏度高的波长变换构件作为闪烁器3和闪烁器4的材料，能够进一步提高放射线图像的能量区别性。此外，通过以闪烁器3的厚度和闪烁器4的厚度不同的方式构成，能够同时调整不同能量带的放射线图像的检测灵敏度，使水准（level）修正等的图像处理简单化。

再有，本发明并不限定于前述的实施方式。

例如，如图6所示的本发明的变形例即闪烁器面板101那样，在隔板102的两面或一面，可以形成有反射由闪烁器3,4产生的闪烁光的反射面102a,102b。这样的反射面102a,102b通过在隔板102的两面或一面蒸镀铝，粘结铝的薄膜，覆盖厚度0.1μm以下的使放射线透过的金属颗粒，或涂布白色涂料来形成。另外，也可以用铝板等的金属板构成隔板102自身，并对其两面或一面进行镜面研磨来形成反射面102a,102b。此外，通过在闪烁器3,4的表面形成了反射面102a,102b之后接合闪烁器3,4，可以在隔板102的两面或一面配置反射面102a,102b。通过这样的结构，能够切实地防止闪烁器3,4中的一个所产生的闪烁光入射到另一个闪烁器3,4，并且可以进行放射线图像取得装置11,31所得到的闪烁光的高效的检测。由此，能够提高放射线图像的能量区别性并且取得高对比度的放射线图像。

另外，闪烁器面板的隔板2不限定于对闪烁器3,4所产生的闪烁光具有遮光性的事实，也可以具有遮蔽闪烁光的一部分波长区域那样的功能。通过这样的结构，也能够在规定的范围效率高地区别高能量带的放射线图像和低能量带的放射线图像。另外，隔板2不限定于让入射的放射线的全部的能量成分透过的事实，也可以具有遮蔽低能量区域的放射线那样的性质。在这种情况下，通过背面侧的闪烁器4能够降低由低能量区域的放射线所产生的闪烁光的入射，能够进一步提高能量区别性。

这里，优选地，隔离构件对闪烁光具有遮光性。若具备这样的隔离构件，则能够切实地防止一个波长变换构件中产生的闪烁光往另一个波长变换构件的入射，能够提高放射线图像的能量区别性。

另外，优选地，在隔离构件形成有反射闪烁光的反射面。若采用这样的结构，则能够切实地防止一个波长变换构件中所产生的闪烁光往另一个波长变换构件的入射，并且可以进行图像取得装置所得到的闪烁光的效率的检测。由此，能够提高放射线图像的能量区别性并且取得高对比度的放射像图像。

此外，优选地，第1波长变换构件与第2波长变换构件由不同的材料形成。在这种情况下，通过使用对不同能量带的放射线灵敏度高的波长变换构件，能够进一步提高放射线图像的能量区别性。

再此外，优选地，第1波长变换构件与第2波长变换构件的厚度不同。若采用这样的结构，则能够同时调整不同能量带的放射线图像的检测灵敏度。

产业上的可利用性

本发明以将透过了对象物的放射线变换成闪烁光的闪烁器面板作为使用用途，使从放射线的入射面及其背面出射的闪烁光的观察变得可能，由此可以取得能量区别性高的放射线检测图像。

闪烁器面板专利购买费用说明

Q：办理专利转让的流程及所需资料

A：专利权人变更需要办理著录项目变更手续，有代理机构的，变更手续应当由代理机构办理。

1：专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。

2：按规定缴纳著录项目变更手续费。

3：同时提交相关证明文件原件。

4：专利权转移的，变更后的专利权人委托新专利代理机构的，应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。

Q:专利著录项目变更费用如何缴交

A：（1）直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,（2）通过代办处缴纳，（3）通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式

Q：专利转让变更，多久能出结果

A：著录项目变更请求书递交后，一般1-2个月左右就会收到通知，国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。