专利摘要

本发明提供了一种砝码交换称量装置及其测量方法，属于计量领域。本装置包括自动质量测量装置、砝码工位、机器手臂和砝码托盘；所述砝码托盘包括底部圆盘(1)、侧挡板(2)和中挡板(3)；所述侧挡板(2)设置在底部圆盘(1)的最外缘圆周上，形成一个圆柱面，其周长与底部圆盘(1)的周长相同；所述中挡板(3)位于底部圆盘(1)的中心线位置上，将底部圆盘(1)分隔成左右两个区域；在所述中挡板(3)上设有凹槽(4)，所述凹槽(4)将中挡板(3)分隔成两块不同长度的挡板。本发明装置结构紧凑、占用空间小，适合丝状、片状的毫克级、微克级砝码质量测量，可保证自动质量测量装置叉齿的准确定位，不会造成砝码的跌落、刮蹭。

权利要求

1.一种砝码交换称量装置，其特征在于：所述装置包括自动质量测量装置、砝码工位、机器手臂和砝码托盘；

所述砝码托盘包括底部圆盘(1)、侧挡板(2)和中挡板(3)；

所述侧挡板(2)设置在底部圆盘(1)的最外缘圆周上，形成一个圆柱面，其周长与底部圆盘(1)的周长相同；

所述中挡板(3)位于底部圆盘(1)的中心线位置上，将底部圆盘(1)分隔成左右两个区域；

在所述中挡板(3)上设有凹槽(4)，所述凹槽(4)将中挡板(3)分隔成两块不同长度的挡板。

2.根据权利要求1所述的砝码交换称量装置，其特征在于：所述侧挡板(2)和中档板(3)均垂直于底部圆盘(1)。

3.根据权利要求2所述的砝码交换称量装置，其特征在于：在所述底部圆盘(1)的下端面的圆周上设有限位槽(5)，所述限位槽(5)为斜边设计。

4.根据权利要求3所述的砝码交换称量装置，其特征在于：所述机器手臂包括至少两个臂端，在每个臂端上安装有叉齿，在所述叉齿上设有斜边，该斜边与底部圆盘(1)的限位槽(5)配合，所述底部圆盘(1)的限位槽(5)能够嵌在该斜边中。

5.根据权利要求4所述的砝码交换称量装置，其特征在于：所述的自动质量测量装置为自动质量比较仪。

6.根据权利要求5所述的砝码交换称量装置，其特征在于：所述砝码工位包括砝码存储工位、砝码测量工位和砝码交换工位；所述砝码存储工位用来存放所有待测量砝码和标准砝码；所述砝码测量工位位于自动质量比较仪的内部，用于完成砝码的比较测量；所述砝码交换工位位于不影响机器手臂运动的其他区域，用于协助完成砝码从机器手臂的一个臂端转移至另一臂端。

7.根据权利要求6所述的砝码交换称量装置，其特征在于：所述砝码存储工位、砝码测量工位和砝码交换工位上均设有工位限位槽，所述工位限位槽为斜边设计，与所述底部圆盘(1)的限位槽(5)配合，所述底部圆盘(1)的限位槽(5)能够嵌在所述工位限位槽中。

8.根据权利要求7所述的砝码交换称量装置，其特征在于：所述底部圆盘(1)的直径等于砝码存储工位的圆盘的直径；

将底部圆盘(1)的左右两个区域编号为A-n和B-n；在所述底部圆盘(1)的底部刻有相应的区域编号。

9.根据权利要求8所述的砝码交换称量装置，其特征在于：所述砝码托盘由弱磁性金属或无磁性金属制成。

10.一种砝码交换称量的测量方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：

(1).确定砝码测量模式，若测量模式为一个标准砝码与一个待测砝码的质量测量，则转到步骤(2)；若测量模式为一个标准砝码与两个待测砝码组合测量，则转到步骤(3)；若测量模式为一个标准砝码与三个待测砝码组合测量，则转到步骤(4)；

(2).取两个砝码托盘，分别为第一托盘和第二托盘；取标准砝码r和待测砝码t；将标准砝码r对称放置在第一托盘中的凹槽处，将待测砝码t对称放置在第二托盘中的凹槽处，利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₁；然后，将标准砝码r对称放置在第二托盘中的凹槽处，将待测砝码t对称放置在第一托盘中的凹槽处，利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₂；则标准砝码r与待测砝码t之间的质量差值为： 然后转到步骤(5)；

(3).取两个砝码托盘，分别为第三托盘和第四托盘，取标准砝码r和两个同标称值的待测砝码t1和t2；将标准砝码r对称放置在第三托盘中的凹槽处，将待测砝码t1放置在第四托盘的A-4区域，将待测砝码t2放置在第四托盘的B-4区域，两个待测砝码对称放置；利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₃；然后，将标准砝码r对称放置在第四托盘中的凹槽处，将待测砝码t1放置在第三托盘的A-3区域，将待测砝码t2放置在第三托盘的B-3区域，两个待测砝码对称放置；利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₄；则标准砝码r与待测砝码t1和t2之间的质量差值为： 然后转到步骤(5)；

(4).取两个砝码托盘，分别为第五托盘和第六托盘，取标准砝码r，两个同标称值待测砝码t1和t2，第三个待测砝码t3；将标准砝码r对称放置在第五托盘中的凹槽处，将待测砝码t1放置在第六托盘的A-6区域，将待测砝码t2放在第六托盘的B-6区域，待测砝码t1和t2对称放置；将待测砝码t3对称放置在第六托盘中的凹槽处，利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₅；然后，将标准砝码r对称放置在第六托盘中的凹槽处，将待测砝码t1放置在第五托盘的A-5区域，将待测砝码t2放置在第五托盘的B-5区域，待测砝码t1和t2对称放置；将待测砝码t3对称放置在第五托盘中的凹槽处，利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₆；则标准砝码r与待测砝码t1，t2和t3之间的质量差值为

(5)结束测量。

说明书

技术领域

本发明属于计量领域，具体涉及一种砝码交换称量装置及其测量方法。

背景技术

在高准确度砝码质量测量实验中，特别是E1等级及以上丝状(片状)毫克(微克)砝码质量测量实验中，需要用到分辨率至少达到0.1μg的自动质量测量装置进行质量测量。由于高准确度的丝状(片状)毫克(微克)砝码需要通过分量组合测量的方法进行质量测量，通常采用1g砝码作为标准砝码向下进行量值传递。目前，大多数计量技术机构已经逐步利用自动化质量测量装置取代手动测量方法，对高准确度的毫克(微克)级砝码进行检定和校准，或者对高准确度的微克级的砝码进行科学研究。

常见的自动化质量测量装置是利用叉齿的方式来从砝码存储工位上取放砝码的。通常自动化质量测量装置砝码存储工位由不锈钢或铝合金制成，外圆周约1.8cm，内圆周约1.6cm，叉齿间隙2mm。该存储工位用来存放待测量以及标准砝码。实验时，由测量装置机器手臂A的叉齿将待测砝码从工位上取下，放到砝码交换工位上，接着旋转机器轴，将待测砝码转移到机器手臂B上，接着用机器手臂A取标准砝码，并将待测砝码和标准砝码交替放入质量测量装置的测量工位上进行测量。因此，成功完成对一组12个毫克砝码的组合质量测量，需要自动化质量测量装置的机器手臂在砝码存储工位、砝码交换工位以及砝码测量工位上取放多次，尤其是在进行1mg以下的砝码取放以及组合测量时，砝码取放次数成倍增加。国内砝码生产厂家较多，大多数并没有按照国际建议OIML的推荐形状和尺寸来设计砝码，砝码直径和宽度不规范。然而，由于砝码直径、宽度太小，很容易造成砝码跌落、刮蹭等现象，即使摆放位置非常小心，而由于质量测量需要进行多次ABBA循环测量，机器手臂在数百次的测量过程中，累积的定位误差始终会造成砝码的偏移，形成偏载误差等质量测量过程中的不良影响因素。更严重的情况是，倘若由于砝码的跌落到天平测量区域，而机器手臂在不知道跌落的情况下仍在取放砝码，均可能造成带动天平测量工位一起移动，一旦触及到高精度质量测量装置，造成质量测量装置以及砝码的损坏甚至报废，经济损失非常巨大。若将标准砝码损坏，将会影响到整个计量技术机构的考核。

发明内容

本发明的目的在于解决上述现有技术中存在的难题，提供一种砝码交换称量装置及其测量方法，其结构紧凑、占用空间小，适合丝状、片状的毫克级、微克级砝码质量测量，可保证自动质量测量装置叉齿的准确定位，不会造成砝码的跌落、刮蹭，不会带动质量测量装置移动，也不会对高精度质量测量装置和砝码造成损坏。

本发明是通过以下技术方案实现的：

一种砝码交换称量装置，所述装置包括自动质量测量装置、砝码工位、机器手臂和砝码托盘；

所述砝码托盘包括底部圆盘1、侧挡板2和中挡板3；

所述侧挡板2设置在底部圆盘1的最外缘圆周上，形成一个圆柱面，其周长与底部圆盘1的周长相同；

所述中挡板3位于底部圆盘1的中心线位置上，将底部圆盘1分隔成左右两个区域；

在所述中挡板3上设有凹槽4，所述凹槽4将中挡板3分隔成两块不同长度的挡板。

所述侧挡板2和中档板3均垂直于底部圆盘1。

在所述底部圆盘1的下端面的圆周上设有限位槽5，所述限位槽5为斜边设计。

所述机器手臂包括至少两个臂端，在每个臂端上安装有叉齿，在所述叉齿上设有斜边，该斜边与底部圆盘1的限位槽5配合，所述底部圆盘1的限位槽5能够嵌在该斜边中。

所述的自动质量测量装置为自动质量比较仪。

所述砝码工位包括砝码存储工位、砝码测量工位和砝码交换工位；所述砝码存储工位用来存放所有待测量砝码和标准砝码；所述砝码测量工位位于自动质量比较仪的内部，用于完成砝码的比较测量；所述砝码交换工位位于不影响机器手臂运动的其他区域，用于协助完成砝码从机器手臂的一个臂端转移至另一臂端。

所述砝码存储工位、砝码测量工位和砝码交换工位上均设有工位限位槽，所述工位限位槽为斜边设计，与所述底部圆盘1的限位槽5配合，所述底部圆盘1的限位槽5能够嵌在所述工位限位槽中。

所述底部圆盘1的直径等于砝码存储工位的圆盘的直径；

将底部圆盘1的左右两个区域编号为A-n和B-n；在所述底部圆盘1的底部刻有相应的区域编号。

所述砝码托盘由弱磁性金属或无磁性金属制成。

一种砝码交换称量的测量方法，包括以下步骤：

(1).确定砝码测量模式，若测量模式为一个标准砝码与一个待测砝码的质量测量，则转到步骤(2)；若测量模式为一个标准砝码与两个待测砝码组合测量，则转到步骤(3)；若测量模式为一个标准砝码与三个待测砝码组合测量，则转到步骤(4)；

(2).取两个砝码托盘，分别为第一托盘和第二托盘；取标准砝码r和待测砝码t；将标准砝码r对称放置在第一托盘中的凹槽处，将待测砝码t对称放置在第二托盘中的凹槽处，利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₁；然后，将标准砝码r对称放置在第二托盘中的凹槽处，将待测砝码t对称放置在第一托盘中的凹槽处，利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₂；则标准砝码r与待测砝码t之间的质量差值为： 然后转到步骤(5)；

(3).取两个砝码托盘，分别为第三托盘和第四托盘，取标准砝码r和两个同标称值的待测砝码t1和t2；将标准砝码r对称放置在第三托盘中的凹槽处，将待测砝码t1放置在第四托盘的A-4区域，将待测砝码t2放置在第四托盘的B-4区域，两个待测砝码对称放置；利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₃；然后，将标准砝码r对称放置在第四托盘中的凹槽处，将待测砝码t1放置在第三托盘的A-3区域，将待测砝码t2放置在第三托盘的B-3区域，两个待测砝码对称放置；利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₄；则标准砝码r与待测砝码t1和t2之间的质量差值为： 然后转到步骤(5)；

(4).取两个砝码托盘，分别为第五托盘和第六托盘，取标准砝码r，两个同标称值待测砝码t1和t2，第三个待测砝码t3；将标准砝码r对称放置在第五托盘中的凹槽处，将待测砝码t1放置在第六托盘的A-6区域，将待测砝码t2放在第六托盘的B-6区域，待测砝码t1和t2对称放置；将待测砝码t3对称放置在第六托盘中的凹槽处，利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₅；然后，将标准砝码r对称放置在第六托盘中的凹槽处，将待测砝码t1放置在第五托盘的A-5区域，将待测砝码t2放置在第五托盘的B-5区域，待测砝码t1和t2对称放置；将待测砝码t3对称放置在第五托盘中的凹槽处，利用自动质量比较仪测得质量差值Δm₆；则标准砝码r与待测砝码t1，t2和t3之间的质量差值为

(5)结束测量。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明装置结构紧凑、占用空间小，适合丝状、片状的毫克级、微克级砝码质量测量，可保证自动质量测量装置叉齿的准确定位(若是砝码有刮蹭，就会造成测量工位叉齿以及机械手臂叉齿的弯曲，下次机械手臂再到测量工位上取放砝码时候，若是机械手臂的叉齿有弯曲，是一定进不去测量工位的叉齿里面的，该缝非常细。肉眼也难以区分，所以能保证准确定位。)，不会造成砝码的跌落、刮蹭，不会带动质量测量装置移动(圆盘的侧挡板能保证丝状砝码不会伸出到测量工位以外的地方，就不会卡在叉齿中，一旦卡在里面就会造成刮蹭，并带动质量测量装置的位移。)，也不会对高精度质量测量装置和砝码造成损坏。

附图说明

图1为本发明砝码交换称量装置的砝码托盘结构示意图；

图2为本发明砝码交换称量装置的砝码托盘侧挡板示意图；

图3为本发明砝码交换称量装置的砝码托盘中挡板及凹槽位置示意图；

图4为砝码存储工位及限位槽侧视图；

图5为砝码存储工位，叉齿及限位槽俯视图；

图6为本发明方法中单砝码放置示意图；

图7为本发明方法中双砝码放置示意图；

图8为本发明方法中三砝码放置示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步详细描述：

本发明可保证自动质量测量装置叉齿的准确定位，有效的消除了偏载对测量结果的影响，不会造成砝码的混淆、跌落、刮蹭，不会带动质量测量装置移动，也不会对高精度质量测量装置和砝码造成损坏。

本发明砝码交换称量装置，包括自动质量测量装置、砝码工位(如图4和图5所示，存放砝码的位置叫做工位。)、机器手臂和砝码托盘，所述装置包括用于加载丝状(片状)毫克(微克)砝码的砝码托盘。砝码托盘包括底部的圆盘1，侧挡板2，中挡板3，凹槽4以及底部限位槽5(如图2所示)。由中档板3隔开的砝码托盘分为左右两个区域，在圆盘底部刻有相应的编号。质量自动测量装置、砝码工位、机器手臂是独立的几个部件；砝码托盘放在砝码工位上，由于毫克＼微克级砝码非常小，砝码工位是叉齿形状的，中间有细缝，所以不能直接放到砝码工位上，因此本发明提出了一个称量托盘，间接用来承接砝码。及其手臂用于在砝码工位和质量自动测量装置上来回搬运砝码。砝码工位有个限位机构，而托盘底部也是设计了这样的形状，可以正好和砝码工位吻合，实现平稳对接。砝码在利用机器手臂从砝码存储工位向砝码交换工位或者砝码测量工位转移砝码时，所述装置中的砝码托盘作为底托，能实现对砝码的保护、且不会混淆砝码，测量时不会带来偏载误差。

所述自动质量测量装置可以自动控制天平风门开启、关闭，秤盘配备叉齿且能完成从机器手臂上卸载砝码。该质量测量装置固定在稳定实验平台上。具体实施时，自动质量比较仪可以采用赛多利斯科学仪器(北京)有限公司的，具体型号为ccr10的自动质量比较仪。

所述砝码工位包括砝码存储工位、砝码测量工位和砝码交换工位。砝码存储工位用来存放所有待测量砝码和标准砝码；砝码测量工位位于质量测量装置内部，用于完成砝码的比较测量；砝码交换工位位于不影响机器手臂运动的其他区域，用于协助完成砝码从机器手臂转移至另一手臂。通常的测量工位就是细密的叉齿，如图5是整个一个平面(砝码存储工位、砝码测量工位和砝码交换工位这三个工位上都设有相应的工位限位槽6。)。本发明中提出了砝码工位细齿在切割时，均采用斜边设计，对应的圆盘也是斜边设计，这样恰好能吻合定位。

所述机器手臂包括至少两个臂端，手臂上安装叉齿，用于在相应工位上取放砝码。机器手臂可以旋转，借助砝码交换工位可以实现砝码从一个机器手臂的叉齿上转移到另一个机器手臂的叉齿，所述叉齿也是细密的缝，本发明中在叉齿上设有托盘限位斜边，即使托盘有轻微的位移，这个斜边设计也会使其落回到凹槽里面。如图4的6所示。

所述砝码托盘由弱磁性(无磁性)金属制成(即底部圆盘1、侧挡板2和中挡板3都是采用同种材料制成的。)，如铝合金材料和钛合金，但是在质量计量领域，铝合金是较为常用的，主要是为了尽可能的消除砝码托盘对砝码产生磁性的影响。砝码托盘包括底部平整的圆盘1，侧边有垂直于底部圆盘1的侧挡板2，砝码托盘中间用中挡板3隔开，在中档板中部靠上的部位有一个凹槽4，砝码底部圆盘有限位槽5。由中档板3隔开的砝码托盘分为左右两个区域，在圆盘底部刻相应的编号A-n和B-n用于代表托盘n的区域A和区域B。

圆盘1底部平整，主要是保证在砝码工位上放置稳定，能保证整个测量过程中的稳定性，提高测量重复性。侧挡板2主要是为了防止测量毫克(微克)级砝码时，由于机器手臂运动过快，气流将毫克(微克)级砝码吹落到底托之外的地方。侧挡板必须是密封的，怕有丝状的砝码从缝中伸出来，一旦刮擦，就会导致天平停止工作，砝码损坏。中间挡板3是为了进行一个标准砝码对两个待测砝码测量时，能将待测砝码区分开(若是单独一个砝码放在托盘上进行称量时，凹槽也是有作用的，其使得放置砝码的时候可以对称放置，砝码放在凹槽处。)。凹槽4用于在特定测量方式下，放置特定形状的砝码，保证整个托盘及砝码不对砝码测量工位形成偏载。如图6所示，这种五边形的砝码比较长，若是凹槽设置在正中间圆心的位置，这种五边形的砝码就会放不到圆盘中，而导致砝码底端翘起来，甚至翘到圆盘的外面。因此凹槽设置在偏离圆心的略微靠上的位置，这样保证砝码可以完整的平躺放在圆盘里面。具体实施时，对凹槽的长度是有限定的，例如如果整个圆盘的直径为1.6cm。该凹槽处，中挡板3中短的挡板长0.4cm，长的挡板长1cm，凹槽宽度为0.2cm，不计壁厚的尺寸，根据经验，壁厚约为0.05cm。凹槽宽度为0.2cm。但是不能卡住砝码，这样会导致砝码的损坏，只要砝码能放进去即可。

限位槽5是为了配合自动测量装置砝码存储工位的限位槽6而设计，即使砝码托盘没有准确放置在砝码存储工位上，而斜边设计的限位槽5与砝码存储工位的限位槽6的配合，可以将砝码托盘限定在称量区域内，尽量减少砝码偏载所带来的测量误差。限位槽6如图4所示，该处为斜边设计，这样的限位设计是保证砝码托盘可以恰好卡在槽里面，不会滑落出来。

为了实现发明目的中所述的机器手臂叉齿与砝码存储工位叉齿7不发生碰撞，与砝码测量工位叉齿，与砝码交换工位叉齿不发生碰撞，不会损坏高精度质量测量装置，也不会对砝码造成损伤，必须首先保证砝码不跌落到砝码存储工位之外的地方，所述砝码托盘直径必须等于砝码存储工位圆盘8的直径，而且能嵌在该存储工位的限位槽6中(如图4和图5所示)。这样能保证在实际砝码测量时，即使机器手臂定位有偏移，该限位槽也能将托盘限制在槽内不至于发生较大移动。

在砝码测量时，通常采用倍分量测量方法，即一个标准砝码会同时与两个相同标称值的待测量砝码进行组合测量，这两个相同标称值的待测量砝码必须区分开，以保证测量结束后归还给各自的砝码盒并交还客户。毫克(微克)砝码非常小，若开始测量之前不将其标记好，在测量完成后很难区分开。本发明提出的砝码交换称量装置，设计了中档板3将托盘分为两个区域，并刻上记号，保证测量不会将砝码混淆。

本发明还提出了一种高准确度发砝码交换称量方法，该方法与本发明中的砝码交换称量装置配合使用，可以得到砝码的最终质量值。本发明方法依次包括如下步骤：

a.确定砝码测量模式，如“一个标准砝码与一个待测砝码的质量测量”，“一个标准砝码与两个待测砝码组合测量”或者“一个标准砝码与三个待测砝码组合测量”；质量测量中，一个标准砝码与三个待测砝码进行对比测量时，待测砝码中的其中两个，一定是同标称值的。

b.若测量模式为“一个标准砝码与一个待测砝码的质量测量”，则转到e；

c.若测量模式为“一个标准砝码与两个待测砝码组合测量”，则转到f；

d.若测量模式为“一个标准砝码与三个待测砝码组合测量”，则转到g；

e.取两个砝码托盘1和2，设标准砝码代号为r，待测砝码代号为t。将r放在托盘1中挡板凹槽处(对称放置，这样不会造成砝码托盘的偏心，从而带来了偏心测量误差)，将t放在托盘2中挡板凹槽处，测得的质量差值为Δm₁(质量比较仪的机械手臂会将砝码托盘取下，放到测量工位上，自动读取天平示值，并将砝码托盘放回到存储工位上。)；接下来，将r放在托盘2中挡板凹槽处，将t放在托盘1中挡板凹槽处，测得的质量差值为Δm₂；则标准砝码r与待测砝码t之间的质量差值为： 砝码放置方式如图6(图6中的五边形砝码是丝状砝码的一种，还有图7中的三角形砝码。不同标称值的砝码有相应的形状。)；

f.取两个砝码托盘3和4，设标准砝码代号为r，两个同标称值待测砝码代号分别是t1和t2。r放在托盘3，t1放托盘4的A-4区域，t2放在托盘4的B-4区域，测得的质量差值为Δm₃；接下来，将r放在托盘4，t1放在托盘3的A-3区域，t2放在托盘3的B-3区域，测的质量差值为Δm₄；则标准砝码r与待测砝码t1和t2之间的质量差值为： 砝码放置方式如图6和图7；

g.取两个砝码托盘5和6，设标准砝码代号为r，两个同标称值待测砝码代号分别是t1和t2，第三个待测砝码代号为t3。r放在托盘5，t1放在托盘6的A-6区域，t2放在托盘6的B-6区域，t3放在托盘6中挡板凹槽处，且在A-6和B-6位置对称放置，测得的质量差值为Δm₅；接下来，将r放在托盘6，t1放在托盘5的A-5区域，t2放在托盘5的B-5区域，t3放在托盘5中挡板凹槽处，且在A-5和B-5位置对称放置，测得的质量差值为Δm₆；则标准砝码r与待测砝码t1，t2和t3之间的质量差值为 砝码放置方式如图6和图8。

如图1-图3所示，在具体的实施中，采用铝合金材料(ρ=2.7g／cm³)制作砝码托盘，托盘底部圆盘直径1.6cm，厚度0.05cm，则托盘底部圆盘体积为0.10048cm³，质量值m₁为0.271296g。

砝码托盘侧挡板高度0.2cm，其周长等于托盘底部圆盘外圆的周长，即5.024cm，厚度仍为0.05cm，则体积为0.05024cm³，质量值m₂为0.135648g。

砝码中挡板长1.4cm，厚度0.05cm，高0.2cm，则体积为0.014cm³，质量值m₃为0.0378g。

则该砝码托盘总质量m为m₁+m₂+m₃=0.271296g+0.135648g+0.0378g=0.444744g。

该砝码托盘理论值为444.744mg。在实际制作过程中，两个砝码托盘不可能具有一样的质量值。设不同的两个托盘1和托盘2，为了消除托盘之间的质量差异，提出了砝码交换称量的测量方法。以100mg做标准，两个50mg丝状砝码作为待测砝码举例说明：

第一步，确定砝码测量模式为“一个100mg标准砝码与两个50mg待测砝码组合测量”；

第二步，将100mg以图6的方式放置在托盘1上；将50mg以图7的方式放置在托盘2上，一个50mg在A-2区域，另一个在B-2区域。

第三步，在砝码质量测量装置上对两个托盘进行质量测量，测得的质量差值Δm₁=m_t-m_r=0.00598mg。

第四步，交换秤盘。将100mg砝码以图6的方式放置在托盘2上；将50mg以图7的方式放置在托盘1上，一个50mg在A-1区域，另一个在B-1区域。重复第三步的质量测量工作，测得的质量差值Δm₂=m_t-m_r=0.00037mg。

第五步，消除托盘的质量差异，得到待测砝码与标准砝码最终质量差值Δm=Δm1+Δm22=0.003175mg.]]>

本发明利用高准确度砝码质量测量装置进行质量测量，可用于E₁等级及以上丝状(片状)毫克(微克)砝码质量测量实验中用到的自动质量测量装置，所述待测砝码可以为E₁等级及以上毫克级和微克级砝码，本发明方法同样也适用于E₁等级以下的毫克级、微克级别的砝码。

上述技术方案只是本发明的一种实施方式，对于本领域内的技术人员而言，在本发明公开了应用方法和原理的基础上，很容易做出各种类型的改进或变形，而不仅限于本发明上述具体实施方式所描述的方法，因此前面描述的方式只是优选的，而并不具有限制性的意义。

一种砝码交换称量装置及其测量方法专利购买费用说明

Q：办理专利转让的流程及所需资料

A：专利权人变更需要办理著录项目变更手续，有代理机构的，变更手续应当由代理机构办理。

1：专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。

2：按规定缴纳著录项目变更手续费。

3：同时提交相关证明文件原件。

4：专利权转移的，变更后的专利权人委托新专利代理机构的，应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。

Q:专利著录项目变更费用如何缴交

A：（1）直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,（2）通过代办处缴纳，（3）通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式

Q：专利转让变更，多久能出结果

A：著录项目变更请求书递交后，一般1-2个月左右就会收到通知，国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。